Físico (bacharel e físico tecnólogo pela UFRJ-1974 e 1972)); Mestre em Física Aplicada (UFMS-2000); e Administrador (bacharel pela UFRJ - 1976). especializado em Metrologia (Coppe-UFRJ-1978) com aperfeiçoamento no exterior, no Laboratoire National d'Essais, Bureau International des Poids et Mésures, Organization International de Metrologie Legale, Commission Interministérielle des Appareils de Mesure Électroniques et Électriques, Phisikalish Tecniche Bundessanstalt. No campo profissional, exerce atividades ligadas a metrologia, qualidade e normalização desde 1971, sendo atualmente pesquisador - tecnologista em Metrologia e Qualidade do Inmetro.